Rev. Phys. Appl. (Paris) 3, 263-264 (1968)
DOI: 10.1051/rphysap:0196800303026300

Une méthode rapide de mesure et d'enregistrement graphique automatique des variations d'une admittance complexe en fonction de divers paramètres physiques

François Kover

Centre de Recherches de la Compagnie Générale d'Électricité, 9I-Marcoussis

Abstract
A description is given of a method of direct measurement and recording for the real and imaginary parts of a complex capacitance, or of any complex admittance, varying as a function of parameters such as temperature, applied voltage, etc. The record is directly drawn in the complex plane, with a precision of several %.

Résumé
On décrit une méthode permettant de mesurer directement et d'enregistrer graphiquement les parties réelle et imaginaire d'une capacité complexe ou de toute admittance complexe variant en fonction de paramètres tels que la température, la tension appliquée, etc. Le tracé est effectué directement dans le plan complexe avec une précision de l'ordre de quelques %.

PACS
0750 - Electrical instruments and techniques.
7210X - Other instrumentation and measurement systems.
7250 - Bench and portable instruments.
7310J - Impedance and admittance measurement.

Key words
admittance measurement -- electric variables measurement