| Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 4, Numéro 2, juin 1969
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| Page(s) | 269 - 270 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:0196900402026900 | |
Rev. Phys. Appl. (Paris) 4, 269-270 (1969)
DOI: 10.1051/rphysap:0196900402026900
S.C.K.-C.E.N., Mol, Belgique
0785 - X ray, gamma ray instruments and techniques.
2930K - X and gamma ray spectroscopy.
7450 - X ray and gamma ray equipment.
Key words
gamma ray detection and measurement -- gamma ray spectrometers
DOI: 10.1051/rphysap:0196900402026900
Mesure de haute résolution du rayonnement gamma issu de la réaction (n, γ)
P.H.M. van AsscheS.C.K.-C.E.N., Mol, Belgique
Abstract
A comparison has been made between a semiconductor detector and a diffraction spectrometer when used in the analysis of neutron capture gamma radiation.
Résumé
On a comparé les caractéristiques d'un détecteur semiconducteur et un spectromètre à diffraction, utilisés dans l'analyse des gamma de capture de neutrons.
0785 - X ray, gamma ray instruments and techniques.
2930K - X and gamma ray spectroscopy.
7450 - X ray and gamma ray equipment.
Key words
gamma ray detection and measurement -- gamma ray spectrometers