Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 5, Numéro 4, août 1970
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Page(s) | 627 - 631 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:0197000504062700 |
DOI: 10.1051/rphysap:0197000504062700
Perfectionnements apportés à la mesure de la quantité d'ions collectée par un spectrographe de masse à étincelles
F. Degrève, C. Le Bars, R. Dablainville et R. FigaretCentre de Recherches du Groupe Péchiney, B. P. 24, 38, Voreppe, France
Abstract
Two technological modifications have been made on a spark source mass spectrograph used for solid analysis : firstly, the construction of a new amplifier-integrator device intended to measure the quantity of collected charges and secondly the installation of an ion beam chopper. The first results obtained, after the coupling of the two devices, have shown that it is possible to analyze significantly, but with a relative imprecision, the principal constituant (matrix) and, with precision, impurities.
Résumé
Deux modifications technologiques ont été opérées sur un spectrographe de masse à étincelles destiné à l'analyse des solides. Il s'agit d'une part de la construction d'un nouvel ensemble amplificateur-intégrateur (moniteur) de hautes performances destiné à mesurer le nombre de charges collecté et d'autre part de l'installation d'un atténuateur de faisceau ionique. Les premiers résultats obtenus à la suite de l'utilisation simultanée de ces deux dispositifs montrent qu'il est possible de doser de façon significative, quoique relativement imprécise le constituant principal d'un échantillon et avec précision des impuretés à teneur moyenne.
2930 - Radiation spectrometers and spectroscopic techniques.
7440 - Particle spectrometers.
Key words
particle spectrometers