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Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 12, Numéro 1, janvier 1977
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| Page(s) | 87 - 91 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:0197700120108700 | |
Rev. Phys. Appl. (Paris) 12, 87-91 (1977)
DOI: 10.1051/rphysap:0197700120108700
Institut d'Optique, Bât. 503, Université Paris XI, 91405 Orsay, France
6820 - Solid surface structure.
7870C - X ray scattering condensed matter.
Key words
glass -- X ray reflection -- X ray reflectance -- polished surfaces -- refractive index changes -- glass
DOI: 10.1051/rphysap:0197700120108700
Sur la détermination à l'aide des rayons X de la courbe de répartition des indices dans la couche superficielle d'un corps poli
P. CroceInstitut d'Optique, Bât. 503, Université Paris XI, 91405 Orsay, France
Abstract
X-ray reflectance of polished surfaces is highly dependent on refractive index changes in the outer layer. An approximate formula suitable for the scanned incidence range is proposed and applied to glass. It is valid when the stratified layer has a depth not exceeding a few nanometers.
Résumé
Le facteur de réflexion de rayons X sur les surfaces polies est très sensible aux variations superficielles d'indice. Une formule approximative applicable dans tout le domaine d'incidence exploré est proposée et appliquée à du verre ; elle est valable lorsque la zone de stratification ne s'étend que sur une profondeur de quelques nanomètres.
6820 - Solid surface structure.
7870C - X ray scattering condensed matter.
Key words
glass -- X ray reflection -- X ray reflectance -- polished surfaces -- refractive index changes -- glass