Mesure du module de cisaillement à faible fréquence au cours du fluage en traction p. 1 P. Bourges, J.L. Gacougnolle, J. Woirgard et J. De Fouquet DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019780013010100 RésuméPDF (427.0 KB)Références
Propriétés diélectriques du chlorure de polyvinyle en très basse fréquence p. 5 M. C. Félix, M. Maitrot et J. Dufour DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019780013010500 RésuméPDF (726.2 KB)Références
Décharges électriques dans le vide : impact de microparticules sphériques de fer de la taille du micron sur des électrodes polies mécaniquement I : effets mécaniques du choc p. 13 C. Texier DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130101300 RésuméPDF (1.742 MB)Références
Propriétés statiques des transistors M. O. S. de puissance à canal vertical. Cas du régime de non-pincement p. 23 P. Rossel, H. Martinot et M. Zamorano DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130102300 RésuméPDF (888.8 KB)Références
Caractérisation d'un substrat semiconducteur par technique micro-onde et injection photonique p. 29 M. Orgeret et J. Boucher DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130102900 RésuméPDF (1.202 MB)Références
Electronic device to remove effects of field emission instability on display in scanning electron microscopy p. 39 P. Morin, C. Rolland, M. Pitaval et E. Vicario DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130103900 RésuméPDF (582.1 KB)Références
Dispositif permettant l'étude de la désorption thermique à partir de monocristaux. Application aux cas de CO et NO sur rhénium p. 43 G. Piquard, J.P. Mihe, M. Housley et R. Ducros DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130104300 RésuméPDF (1.015 MB)Références
