Mesure du module de cisaillement à faible fréquence au cours du fluage en traction p. 1 P. Bourges, J.L. Gacougnolle, J. Woirgard and J. De Fouquet DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019780013010100 AbstractPDF (427.0 KB)References
Propriétés diélectriques du chlorure de polyvinyle en très basse fréquence p. 5 M. C. Félix, M. Maitrot and J. Dufour DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019780013010500 AbstractPDF (726.2 KB)References
Décharges électriques dans le vide : impact de microparticules sphériques de fer de la taille du micron sur des électrodes polies mécaniquement I : effets mécaniques du choc p. 13 C. Texier DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130101300 AbstractPDF (1.742 MB)References
Propriétés statiques des transistors M. O. S. de puissance à canal vertical. Cas du régime de non-pincement p. 23 P. Rossel, H. Martinot and M. Zamorano DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130102300 AbstractPDF (888.8 KB)References
Caractérisation d'un substrat semiconducteur par technique micro-onde et injection photonique p. 29 M. Orgeret and J. Boucher DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130102900 AbstractPDF (1.202 MB)References
Electronic device to remove effects of field emission instability on display in scanning electron microscopy p. 39 P. Morin, C. Rolland, M. Pitaval and E. Vicario DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130103900 AbstractPDF (582.1 KB)References
Dispositif permettant l'étude de la désorption thermique à partir de monocristaux. Application aux cas de CO et NO sur rhénium p. 43 G. Piquard, J.P. Mihe, M. Housley and R. Ducros DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197800130104300 AbstractPDF (1.015 MB)References
