Rev. Phys. Appl. (Paris) 15, 257-262 (1980)
DOI: 10.1051/rphysap:01980001502025700

Caractérisation par microsonde électronique de couches minces de Cd 1-xZnxS pour cellules solaires

J.F. Bresse, M. Lumbreras-Ginter, A. Rossi et M. Cadene

Laboratoire de Microscopie Electronique et Microanalyse, Groupe de Dynamique des Phases Condensées (L.A. 233) U.S.T.L., p1. E.-Bataillon, 34060 Montpellier, France

Abstract
Cd1-xZnxS layers obtained by an evaporation of solid solution powders, a few microns thick have been analyzed by a Castaing microprobe. The particularity of these layers ( x = 0.09 and 0.10) which corresponds to an important Zn gradient in thickness has been characterized by X-Ray profiles. Quantitative measurements on profiles and on layers surface using different excitation energies permit to have a good idea of the concentration gradient and its variation as a function of thermal treatments.

Résumé
Des couches de Cd1-xZnxS, obtenues par une méthode d'évaporation classique à partir d'une solution solide de quelques micromètres d'épaisseur, ont été analysées grâce à une microsonde électronique de Castaing. Dans l'épaisseur des couches correspondant à x = 0,09 et 0,10, un gradient important de l'élément Zn a pu être mis en évidence et caractérisé quantitativement parallèlement aux éléments Cd et S. Les mesures effectuées sur la tranche à partir des profils d'émission X et sur la surface pour différentes énergies du faisceau incident ont été comparées et ont permis en particulier de mettre en évidence la variation des gradients lors d'un recuit thermique.

PACS
6855 - Thin film growth, structure, and epitaxy.
8280D - Electromagnetic radiation spectrometry chemical analysis.
8630J - Photoelectric conversion: solar cells and arrays.
8420 - Solar cells and arrays.

Key words
cadmium compounds -- semiconductor thin films -- zinc compounds -- Cd sub 1 x Zn sub x S thin films -- solar cells -- Castaing microprobe -- concentration gradient -- electron probe analysis -- II VI semiconductors