EDP Sciences logo
  • Revues
  • Books
  • Congrès
0
  • English (UK)
  • Français (FR)
Authentification abonné
  • Se connecter par identifiant/mot de passe
  • Votre abonnement
Mon compte EDPS
  • S'identifier
Revue de Physique Appliquée
  • Toutes les archives
  • Tous les numéros
  • Abonnement / Achat pérenne des archives
Rechercher
Menu
  • Abonnement / Achat pérenne des archives
  • Pour les lecteurs
  • 1872-1962
    • J. Phys. Théor. Appl.
    • Radium (Paris)
    • J. Phys. Radium
    • J. Phys. Phys. Appl.
  • 1963-1990
    • J. Phys.
    • J. Phys. Colloques
    • J. Phys. Phys. Appl.
    • Rev. Phys. Appl. (Paris)
    • J. Physique Lett.
  • 1991-2006
    • J. Phys. I France
    • J. Phys. II France
    • J. Phys. III France
    • J. Phys. IV France
  • Current journals
Recherche avancée
  • Abonnement / Achat pérenne des archives
  • Pour les lecteurs
  • 1872-1962
    • J. Phys. Théor. Appl.
    • Radium (Paris)
    • J. Phys. Radium
    • J. Phys. Phys. Appl.
  • 1963-1990
    • J. Phys.
    • J. Phys. Colloques
    • J. Phys. Phys. Appl.
    • Rev. Phys. Appl. (Paris)
    • J. Physique Lett.
  • 1991-2006
    • J. Phys. I France
    • J. Phys. II France
    • J. Phys. III France
    • J. Phys. IV France
  • Current journals
  • Précédent
  • Sommaire
  • Suivant

Revue de Physique Appliquée

Volume 16 / Numéro 10 (octobre 1981)


Export de la citation des articles sélectionnés Export
Tout cocher

Les générateurs à plasma p. 549

F. Kassabji et P. Fauchais
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019810016010054900
  • Résumé
  • PDF (4.795 MB)
  • Références

Qualitative and quantitative assessments of the growth of (Al,Ga) As-GaAs heterostructures by in situ ellipsometry p. 579

G. Laurence, F. Hottier et J. Hallais
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019810016010057900
  • Résumé
  • PDF (1.652 MB)
  • Références

Méthode de mesure de la longueur de diffusion dans des rubans de silicium polycristallin destinés à la conversion photovoltaïque p. 591

H. Nodet, D. Casenave, R. Gauthier et P. Pinard
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019810016010059100
  • Résumé
  • PDF (719.0 KB)
  • Références

Influence de la température sur la vitesse limite des trous dans un transistor MOS à canal court de type P p. 597

M. Gamboa, T. Phan Pham, H. Tranduc et P. Rossel
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019810016010059700
  • Résumé
  • PDF (315.4 KB)
  • Références

Asservissement de la fréquence d'un laser à colorant sur une référence atomique balayable par un champ magnétique p. 601

N. Courtier et M. Dumont
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019810016010060100
  • Résumé
  • PDF (1.731 MB)
  • Références

Revue de livres p. 613

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019810016010061300
  • Résumé
  • PDF (218.7 KB)

Revue de Physique Appliquée

Copyright / Publiée par : EDP Sciences

EDP Sciences
  • Mentions légales
  • Données personnelles
  • Contacts
A Vision4Press website