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Article cité :

Diagnostics spectroscopiques pour la caractérisation de semiconducteurs

A. Goltzéne, B. Prévot, C. Schwab

Rev. Phys. Appl. (Paris), 19 8 (1984) 593-600

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01984001908059300

Citations de cet article :

Raman characterization of semiconducting materials and related structures

B. Prévot and J. Wagner
Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials 22 (4) 245 (1991)
https://doi.org/10.1016/0960-8974(91)90020-D

Raman scattering evaluation of lattice damage and electrical activity in Be-implanted GaAs

M. Gargouri, B. Prevot and C. Schwab
Journal of Applied Physics 62 (9) 3902 (1987)
https://doi.org/10.1063/1.339237