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Pulsed laser etching of silicon: Dopant profile modification and dopant desorption induced by surface melting
A. Desmur, B. Bourguignon, J. Boulmer, J.-B. Ozenne, J.-P. Budin, D. Débarre and A. Aliouchouche Journal of Applied Physics 76(5) 3081 (1994) https://doi.org/10.1063/1.357490
Defects and Disorder in Crystalline and Amorphous Solids