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Article cité :

The base line problem in DLTS technique

G. Couturier, A. Thabti, A.S. Barrière

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Citations de cet article :

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Constant-resistance deep-level transient spectroscopy in Si and Ge JFET's

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Averaging and recording of digital deep-level transient spectroscopy transient signals

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Investigation of the CaF2/p-type Si(100) interface by conductance and deep level transient spectroscopy

G. Couturier, H. Ricard, A. Thabti, A.S. Barrière and H. Ishiwara
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