Effet des métallisations réelles dans les lignes GaAs pour les circuits microondes monolithiques N. Daoud, S. Tedjini, E. Pic et D. RaulyRev. Phys. Appl. (Paris), 24 3 (1989) 357-367DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01989002403035700
