Mesure et modélisation du courant de fuite de grille en excès des FET InGaAs P. Carer, E. Caquot, J.C. Renaud, L. Nguyen et A. ScavennecRev. Phys. Appl. (Paris), 25 5 (1990) 453-456DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01990002505045300
