Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 24, Number 1, janvier 1989
Page(s) 11 - 16
Rev. Phys. Appl. (Paris) 24, 11-16 (1989)
DOI: 10.1051/rphysap:0198900240101100

Influence of evaporation and exchange reactions at the surface on the evolution of an arbitrary tracer distribution by diffusion

R.J. Tarento

CNRS, Laboratoire de Physique des Matériaux, Meudon, France

The solution of the equation of one-dimensional diffusion with evaporation of the sample and exchange of the diffusant with the ambient at the surface has been applied to the cases of thick layer diffusion, diffusion from an implantation profile and isotope exchange diffusion.

La solution de l'équation à une dimension de la diffusion avec évaporation du matériau et échange en surface du traceur avec l'ambiant a été appliquée aux cas de la diffusion en couche épaisse, de la diffusion d'un profil implanté, et de l'échange isotopique.

6630D - Theory of diffusion and ionic conduction in solids.
6822 - Surface diffusion, segregation and interfacial compound formation.
8230H - Chemical exchanges substitution, atom transfer, abstraction, disproportionation, and group exchange.

Key words
chemical exchanges -- diffusion in solids -- isotope exchanges -- surface diffusion -- tracers -- evaporation -- exchange reactions -- surface -- tracer distribution -- one dimensional diffusion -- thick layer diffusion -- implantation profile -- isotope exchange diffusion