Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 4, Numéro 2, juin 1969
Page(s) 143 - 144
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0196900402014301
Rev. Phys. Appl. (Paris) 4, 143-144 (1969)
DOI: 10.1051/rphysap:0196900402014301

Échantillonneur pour analyse simultanée des événements X, Y et XY

A. Muser, J. Zen, J.D. Michaud et F. Scheibling

Institut de Recherches Nucléaires, Strasbourg


Abstract
In a bidimensional analysis, it is often necessary to know together with the X Y spectrum, the two single X and Y spectra. It is important to use the same converters for both types of spectra. The resulting increase of dead time may be limited using a sampling method. The principle of the method is discussed and the logic of the electronic circuitry is described.


Résumé
En analyse biparamétrique, il est souvent nécessaire de connaître en plus du spectre X Y les deux spectres simples X et Y sans tenir compte des corrélations qui existent entre eux. Il est important d'utiliser les mêmes codeurs pour les deux types de spectres. L'augmentation du temps mort qui en résulte est réduite par une méthode d'échantillonnage. Le principe de la méthode et la logique des circuits permettant l'analyse simultanée des informations simples et corrélées sont décrits.

PACS
1290 - Other analogue circuits.

Key words
logic circuits