Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 4, Numéro 2, juin 1969
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Page(s) | 143 - 144 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:0196900402014301 |
DOI: 10.1051/rphysap:0196900402014301
Échantillonneur pour analyse simultanée des événements X, Y et XY
A. Muser, J. Zen, J.D. Michaud et F. ScheiblingInstitut de Recherches Nucléaires, Strasbourg
Abstract
In a bidimensional analysis, it is often necessary to know together with the X Y spectrum, the two single X and Y spectra. It is important to use the same converters for both types of spectra. The resulting increase of dead time may be limited using a sampling method. The principle of the method is discussed and the logic of the electronic circuitry is described.
Résumé
En analyse biparamétrique, il est souvent nécessaire de connaître en plus du spectre X Y les deux spectres simples X et Y sans tenir compte des corrélations qui existent entre eux. Il est important d'utiliser les mêmes codeurs pour les deux types de spectres. L'augmentation du temps mort qui en résulte est réduite par une méthode d'échantillonnage. Le principe de la méthode et la logique des circuits permettant l'analyse simultanée des informations simples et corrélées sont décrits.
1290 - Other analogue circuits.
Key words
logic circuits