Rev. Phys. Appl. (Paris) 4, 397-403 (1969)
DOI: 10.1051/rphysap:0196900403039700

Application des relations de dispersion à la détermination simultanée de l'épaisseur et de l'indice complexe d'une couche mince métallique

C. Froissart

Institut d'Optique et Faculté des Sciences de Paris

Abstract
It is shown that the dispersion (Kramers-Kronig) relations can be used not only for reflection on bulk materials but for the reflection and transmission through a thin metallic film. It is thus possible to determine both the complex refractive index n - ik and the thickness d of the film from reflection and transmission measurements only. Two examples are given concerning gold and iron.

Résumé
On montre que les relations de dispersion (Kramers-Kronig) peuvent être appliquées non seulement à des matériaux massifs mais également à la réflexion et à la transmission sur des couches minces métalliques. Il est alors possible de déterminer l'indice complexe n - ik et l'épaisseur d de la couche. Deux exemples sont donnés pour l'or et l'acier.

PACS
0760 - Optical instruments and equipment.
7820C - Optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity).

Key words
Dispersion relations -- Refractive index measurement -- Metallic thin films -- Thickness measurement -- Optical method -- Simultaneous measurement -- Spectrophotometry