Rev. Phys. Appl. (Paris) 4, 525-532 (1969)
DOI: 10.1051/rphysap:0196900404052500

Contrastes simulés au croisement de défauts d'empilement

André Rocher et Bernard Jouffrey

Laboratoire de Physique des Solides, associé au C.N.R.S., Faculté des Sciences d'Orsay, Essonne

Abstract
The image contrast at intersecting stacking faults is studied by electron microscopy and computer simulation in a cobalt-chromium alloy. The technique for simulation of electron micrographs is similar to the one given by Head. The calculations of transmitted and diffracted intensities are carried out with the two beam dynamical theory in a perfect crystal. The agreement between simulated and experimental images is quite reasonable.

Résumé
Les croisements de défauts d'empilement dans du cobalt-chrome sont étudiés par comparaison de micrographies obtenues par microscopie électronique et de simulations réalisées sur ordinateur. La technique de simulation est analogue à celle donnée par Head. Les calculs des intensités transmise et diffractée sont faits à partir de la théorie dynamique à deux ondes dans un cristal parfait. La correspondance simulation-micrographie est satisfaisante.

PACS
6172N - Stacking faults and other planar or extended defects.

Key words
Stacking faults -- Image contrast -- Computerized simulation -- Dynamic theory -- TEM -- Cobalt alloys -- Chromium alloys -- Experimental study -- Theoretical study