Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 5, Numéro 2, avril 1970
Page(s) 317 - 320
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0197000502031700
Rev. Phys. Appl. (Paris) 5, 317-320 (1970)
DOI: 10.1051/rphysap:0197000502031700

Application de la méthode de rétrodiffusion des électrons à la mesure en continu des faibles épaisseurs de revêtements légers sur métaux ou alliages légers

G.R. Roche1, J.F. Deveau1, P.J. Cunat1, P. Levy2, J. Boin2 et C. Riss3

1  Laboratoire de Physique Nucléaire, Faculté des Sciences de Clermont-Ferrand
2  Institut Universitaire de Technologie, Montluçon
3  Laboratoires de Recherches, C. E. G. E. D. U. R., Issoire


Abstract
This paper deals with the continuous thickness measurement of thin organic coatings on light metals or alloys. The characteristics of a beta-ray backscattering gauge operating in helium are studied therein. We show that results are very much improved by working in helium. The influences of the beta radiation energy and of the atomic number of the coating are examined. Results are also given about the accuracy and the times of measurement, as well as the surface of the sample tested.


Résumé
Le problème envisagé concerne la mesure en continu des faibles épaisseurs de revêtements organiques sur métaux ou alliages légers. Nous étudions les caractéristiques d'une jauge à rétrodiffusion β opérant sous atmosphère d'hélium. Nous montrons que le fait de travailler sous hélium améliore les résultats de façon très importante. L'influence de l'énergie de la source radio-active et du numéro atomique du revêtement sont examinés. Les résultats obtenus concernent également la précision, le temps de mesure ainsi que la surface de l'échantillon sous investigation.

PACS
0630C - Spatial variables measurement.
0670E - Testing equipment.
6800 - Surfaces and interfaces: thin films and whiskers.

Key words
thickness measurement