Trempe des lacunes dans le niobium

Abstract
Two types of specimen have been studied : 12,5 micron thick ribbons and 5/100 mm wires. In both cases, the specimen placed in a pyrex tube were degassed in ultra-high vacuum at 2 000 °C and, before sealing, the tube was filled with helium purified by passing through zeolite at hydrogen liquid temperature. The specimens were heated by the Joule effect and quenched by cutting off the current and resistivity measurement were made. The ribbons show only one stage of isochrone annealing while two stages were observed for the wires. These stages are considered due to point defects remaining after the quench.

Résumé
Deux types d'échantillons ont été étudiés : des rubans d'épaisseur 12,5 microns et des fils de 5/100 mm de diamètre. Dans les deux cas les échantillons, placés dans une ampoule en pyrex, sont dégazés sous ultra-vide à 2 000 °C puis, avant d'être scellée, l'ampoule est remplie d'hélium ultra-purifié par passage sur zéolithe à la température de l'hydrogène liquide. Le paramètre d'étude est la résistivité ; les échantillons sont chauffés par effet Joule et trempés par coupure du courant. Sur les rubans, les recuits isochrones mettent en évidence un seul stade ; par contre, sur les fils, on observe deux stades. Ces stades sont interprétés comme dus aux défauts ponctuels retenus par la trempe.