Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 9, Numéro 2, mars 1974
Page(s) 393 - 397
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0197400902039300
Rev. Phys. Appl. (Paris) 9, 393-397 (1974)
DOI: 10.1051/rphysap:0197400902039300

Élargissement par les dislocations des pseudo-lignes de Kikuchi

P. Guyot

Laboratoire de Thermodynamique et Physico-chimie Métallurgiques LA29, ENSEEG, B. P. 44, 38401 Saint-Martin-d'Hères, France


Abstract
The lattice distorsions induced by the dislocations decrease the contrast and widen the channelling lines observed in a scanning electron microscope. A model is proposed relating the line width to the dislocation density lying under the specimen surface, in satisfying agreement with the experimental results obtained for aluminium.


Résumé
Les distorsions de réseau cristallin introduites par les dislocations diminuent le contraste et augmentent la largeur des pseudo-lignes de Kikuchi observées au microscope électronique à balayage. Un modèle est présenté reliant la largeur des lignes à la densité des dislocations sous-jacentes à la surface de l'échantillon, en accord satisfaisant avec les résultats expérimentaux obtenus pour l'aluminium.

PACS
6170 - Defects in crystals.

Key words
electron microscope examination of materials -- dislocations -- lattice distortions -- channelling lines -- scanning electron microscope -- Kikuchi pseudo line enlargement -- subsurface density -- Al