Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 11, Numéro 2, mars 1976
Page(s) 343 - 346
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:01976001102034300
Rev. Phys. Appl. (Paris) 11, 343-346 (1976)
DOI: 10.1051/rphysap:01976001102034300

Observation du graphite en microscopie électronique à balayage en transmission

P. Guyot1 et J.M. Gjurasevic2

1  LTPCM, LA n° 29, ENSEEG, Domaine Universitaire, B. P. 44, 38401 St-Martin-d'Hérès, France et
2  Pechiney, Centre de Recherches, 38340 Voreppe, France


Abstract
A conventional scanning electron microscope working at 30 kV with thermo-ionic emission and principally in the transmission mode is used to observe the dislocations in graphite. The influence of the illumination and collecting angles on the image is studied. The observed contrasts are conveniently explained in terms of the reciprocity theorem.


Résumé
Un microscope électronique à balayage conventionnel fonctionnant à 30 kV en émission thermo-ionique est utilisé pour observer principalement en transmission les dislocations dans le graphite. On étudie l'influence des angles d'illumination et de collection sur les images. Les contrastes observés sont convenablement expliqués à partir du théorème de réciprocité.

PACS
6116D - Electron microscopy determinations of structures.
6170 - Defects in crystals.

Key words
dislocations -- electron microscope examination of materials -- graphite -- scanning electron microscope -- transmission mode -- dislocations in graphite -- illumination -- collecting angles -- contrasts -- reciprocity theorem -- thermionic emission