Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 11, Numéro 6, novembre 1976
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Page(s) | 739 - 742 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:01976001106073900 |
DOI: 10.1051/rphysap:01976001106073900
Détermination des axes optiques pour la biréfringence accidentelle du ZnSe monocristallin
J. DaunayLaboratoire d'Optoélectronique, Faculté des Sciences, 40, avenue du Recteur Pineau, 86022 Poitiers, France
Abstract
In spite of their cubic structure, ZnSe single crystals show a weak biaxial birefringence. The study of light propagation along several crystallographic directions determines the orientation of the index ellipsoïd with respect to the crystal axes. Moreover the technique allows the measurement of the angle of the optic axes and the determination of the plane in which they move when the incident wavelength changes.
Résumé
Nous avons constaté que des monocristaux de séléniure de zinc, bien qu'étant de structure cubique, présentent une faible biréfringence de type biaxial. L'étude de cette biréfringence accidentelle selon plusieurs directions cristallographiques a permis de préciser la position de l'ellipsoïde des indices dans le cristal et de déterminer l'angle des axes optiques ainsi que le plan dans lequel ils se trouvent.
7820F - Birefringence.
Key words
Birefringence -- Optical axis -- Light propagation -- Crystal orientation -- Investigation method -- Zinc selenides -- Semiconductor materials -- Monocrystals