Rev. Phys. Appl. (Paris) 12, 529-532 (1977)
DOI: 10.1051/rphysap:01977001204052900

Étude des transitions électroniques au voisinage du seuil interbande dans des couches minces de MgF2 et Alf3 en fonction des conditions de préparation

A. Barrière¹, A. Lachter¹ et Y. Bertrand<sup>2

1</sup>  Laboratoire de Recherches en Electrotechnique et Physique du Solide de l'Université de Bordeaux I, 351, Cours de la Libération, 33405 Talence, France
²  Laboratoire de Spectroscopie , de l'Université des Sciences et Techniques du Languedoc, Place Eugène-Bataillon, 34060 Montpellier, France

Abstract
The strong broadening of the optical absorption edge observed in magnesium fluoride thin films is discussed in this paper. The electronic transitions responsible for this effect are deduced from a good knowledge of the crystallization state and of the composition of the samples as well as from the comparison of the absorption spectra of aluminium fluoride thin films. Transitions beetwen states of OH-, of F- and Na+, which are included in the layers, are invoked to explain the observations.

Résumé
Dans des couches minces de fluorure de magnésium, on essaie de déterminer les transitions électroniques qui sont la cause d'un large bord d'absorption optique. L'interprétation des phénomènes observés est déduite d'une bonne connaissance de l'état de cristallisation et de la composition des échantillons ainsi que de la comparaison des spectres d'absorption avec ceux de couches minces de fluorure d'aluminium. Des transitions entre les états de OH- ou F- et ceux de Na+, qui entrent dans la composition des films, sont invoquées pour expliquer les résultats obtenus.

PACS
7840H - Visible and ultraviolet spectra of other nonmetals.
7850E - Impurity and defect absorption in insulators.
7865J - Optical properties of nonmetallic thin films.

Key words
aluminium compounds -- impurity and defect absorption spectra of inorganic solids -- magnesium compounds -- visible and ultraviolet spectra of inorganic solids -- electronic transitions -- fundamental absorption edge -- MgF sub 2 -- AlF sub 3 -- thin films -- strong broadening -- optical absorption edge -- crystallization state -- composition -- dependence on preparation conditions