Rev. Phys. Appl. (Paris) 15, 67-73 (1980)
DOI: 10.1051/rphysap:0198000150106700

Dosage d'une couche adsorbée sur une pointe à émission de champ à l'aide de méthodes de microanalyse nucléaire (Pd ou C adsorbé sur W)

A. Piquet, H. Roux, G. Pralong et J.P. Dupin

Département de Physique des Matériaux , Université Claude-Bernard, Lyon-I, 43 bd du 11-Novembre-1918, 69621 Villeurbanne Cedex, France

Abstract
Average concentration of adsorbed layers on F.E.M. tips is determined by means of nuclear microanalysis. The adsorbate source flux is condensed simultaneously on the tip and on an adjoining target until a F.E.M. singularity is obtained. Nuclear methods being very sensitive, target deposit is sufficient to obtain an accurate determination of the concentration. In the case of a tungsten tip, the average palladium concentration corresponding to the maximum average work function is (0.60 ± 0.06) 1015 Pd atoms/cm 2, and the average carbon concentration corresponding to the appearance of the { 334 } facets is (1.5 ± 0.3) 1014 C atoms/cm2.

Résumé
La micro-analyse nucléaire est utilisée pour déterminer la concentration moyenne d'une couche adsorbée sur une pointe à émission de champ. Le flux d'adsorbat provenant de la source est condensé simultanément sur la pointe et sur une cible adjointe jusqu'à l'obtention d'une singularité en émission de champ ; la sensibilité des méthodes nucléaires est telle que le dépôt reçu dans ces conditions par la cible est suffisant pour être dosé avec précision. Ainsi, dans le cas d'une pointe de tungstène, la concentration moyenne de palladium correspondant à l'obtention du maximum de travail de sortie moyen a été évaluée à (0,60 ± 0,06) 1015 atomes Pd/cm2, et la concentration moyenne de carbone correspondant à l'apparition des facettes { 334 } a été évaluée à (1,5 ± 0,3) 1014 atomes C/cm2.

PACS
6845B - Sorption equilibrium at solid fluid interfaces.
7970 - Field emission and field ionization.
8280 - Chemical analysis and related physical methods of analysis.

Key words
carbon -- field emission ion microscopy -- ion microanalysis -- palladium -- adsorbed layers -- nuclear microanalysis -- Pd -- C -- W -- adsorbate source flux -- work function -- FEM tips