Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 18, Numéro 10, octobre 1983
Page(s) 619 - 624
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:019830018010061900
Rev. Phys. Appl. (Paris) 18, 619-624 (1983)
DOI: 10.1051/rphysap:019830018010061900

Méthodes de détermination des courbes fréquence-température d'un résonateur à quartz vibrant en mode d'épaisseur

B. Dulmet et R. Bourquin

Laboratoire de Chronométrie et Piézoélectricité, E.N.S.M.M., La Bouloie, 25030 Besançon Cedex, France


Abstract
An accurate knowledge of the resonator's properties require theoretical analysis of frequency-temperature curves. Some significant differencies are obtained, related to theoretical analysis. In this paper, we present two methods for the derivation of quartz plates temperature characteristics. The first one is classical while the second is based on a more elaborated formalism. It appears that the classical method is not the simplest when no simplification is available.


Résumé
La détermination des courbes fréquence-température est une étape essentielle du développement des résonateurs. Selon la démarche suivie, certaines différences appréciables sont observées. Nous comparons la méthode la plus couramment utilisée pour l'obtention des courbes fréquence-température avec une méthode fondée sur l'utilisation d'un formalisme plus général. Il s'avère que la démarche classique n'est pas la plus directe lorsque aucune simplification ne peut être opérée.

PACS
8550 - Dielectric, ferroelectric, and piezoelectric devices.

Key words
crystal resonators -- quartz -- frequency temperature curves -- quartz resonator -- thickness mode -- quartz plates temperature characteristics