Rev. Phys. Appl. (Paris) 20, 207-213 (1985)
DOI: 10.1051/rphysap:01985002003020700

Déformation cyclique in situ dans le microscope électronique à 200 kV. Présentation du porte-objet de fatigue

P. Lewandowski, M. Fagot, P. Chomel et J.P. Cottu

Laboratoire de Physique des Solides , INSA, avenue de Rangueil, 31077 Toulouse Cedex, France

Abstract
A new push-pull deformation device has been developed for particular use in the electron microscope JEOL 200 CX. In situ cyclic déformation experiments can be carried out at various flow rates and tempe-ratures, from zero up to 0.4 μm.s-1 and from 150 K up to 350 K with the side entry specimen holder presented here. First experimental results obtained with pure iron and dilute Fe-Pt alloys are reported.

Résumé
Afin d'effectuer des essais de déformation cyclique à l'intérieur même du microscope électronique JEOL 200 CX, nous avons mis au point un porte-objet de déformation alternée de conception originale. Ce porte-objet à entrée latérale permet d'observer in situ les mécanismes microscopiques de la déformation plastique, à des vitesses comprises entre zéro et 0,4 μm.s-1, à des températures comprises entre 150 K et 350 K. Nous pré sentons également les résultats des premières observations faites à partir d'échantillons de fer pur et d'alliages dilués Fe-Pt.

PACS
8170 - Materials testing.

Key words
materials testing -- cyclic deformation -- 200 kV electron microscope -- fatigue specimen holder -- push pull deformation device -- JEOL 200 CX -- flow rates -- temperatures -- side entry specimen holder