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Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 22, Numéro 8, août 1987
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| Page(s) | 775 - 778 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:01987002208077500 | |
Rev. Phys. Appl. (Paris) 22, 775-778 (1987)
DOI: 10.1051/rphysap:01987002208077500
1 Laboratoire « Physique des liquides et électrochimie » ESPCI, 10, rue Vauquelin, 75231 Paris, France
2 DPhG/SPSRM-CEN Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex, France
6845 - Solid fluid interface processes.
Key words
Langmuir Blodgett films -- X ray diffraction examination of materials -- X ray reflectivity -- Langmuir monolayer -- water -- Langmuir -- density profile -- roughness -- solid films
DOI: 10.1051/rphysap:01987002208077500
X-ray reflectivity of a Langmuir monolayer on water
L. Bosio1, J.J. Benattar2 et F. Rieutord21 Laboratoire « Physique des liquides et électrochimie » ESPCI, 10, rue Vauquelin, 75231 Paris, France
2 DPhG/SPSRM-CEN Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex, France
Abstract
We built a special Langmuir through allowing the use of X-ray reflectivity. Using the device we studied for the first time the density profile of a Langmuir monolayer directly on water. This experiment opens new prospects in particular to measure the roughness of solid films on water subphase.
Résumé
Nous avons mis au point une cuve de Langmuir qui permet l'utilisation de la technique de réflexion des rayons X. A l'aide de ce dispositif nous avons pour la première fois étudié le profil de densité d'une monocouche de Langmuir directement sur l'eau. Cette expérience ouvre de nouvelles perspectives en particulier, pour des mesures précises de la rugosité des films solides sur l'eau.
6845 - Solid fluid interface processes.
Key words
Langmuir Blodgett films -- X ray diffraction examination of materials -- X ray reflectivity -- Langmuir monolayer -- water -- Langmuir -- density profile -- roughness -- solid films