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Article cité :

Étude, en ondes millimétriques, de l'influence des défauts de trace et des irrégularités superficielles de réseaux de diffraction sur leurs performances

R. Deleuil, F. Varnier

Rev. Phys. Appl. (Paris), 6 2 (1971) 195-198

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197100602019500

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Références

Citations de cet article :

Microwave verification of a numerical optimization of fourier gratings

P. Bliek, R. Deleuil, M. Breidne and D. Maystre
Applied Physics 24 (2) 147 (1981)
https://doi.org/10.1007/BF00902272