Rev. Phys. Appl. (Paris) 6, 195-198 (1971)
DOI: 10.1051/rphysap:0197100602019500

Étude, en ondes millimétriques, de l'influence des défauts de trace et des irrégularités superficielles de réseaux de diffraction sur leurs performances

R. Deleuil et F. Varnier

Laboratoire d'Optique, Faculté des Sciences de Marseille Centre de Saint-Jérôme, 13, Marseille 13e, France

Abstract
With the help of a microwave spectrometer, which has already been described elsewhere, the authors have investigated some diffraction grating profiles for which a theoretical analysis is impossible. This is the case of metallic echelette grating whose grooves are imperfectly ruled (incorrect diamond loading and facet roughness).

Résumé
Grâce à un goniomètre ultra-hertzien, décrit par ailleurs, les auteurs ont étudié des modèles de réseaux de diffraction dont on ne peut, pour l'instant, prévoir théoriquement le comportement ; il s'agit, tout particulièrement, de réseaux échelettes métalliques présentant des méplats ou des facettes rugueuses.

PACS
5235H - Plasma electromagnetic waves.
5240D - Electromagnetic wave propagation in plasma.
5210H - Electromagnetic wave propagation in plasma.
7320M - Mass and density measurement.

Key words
electromagnetic wave propagation in plasma -- electron density -- plasma diagnostics -- electron densities -- microwave diffraction -- transverse electric waves -- spherical plasma -- interferometric measurements