Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 6, Numéro 2, juin 1971
Page(s) 199 - 200
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0197100602019900
Rev. Phys. Appl. (Paris) 6, 199-200 (1971)
DOI: 10.1051/rphysap:0197100602019900

Diffraction d'ondes millimétriques par un plasma sphérique mesure de densités électroniques élevées

Y. Archambault

THOMSON-CSF, B. P. 10, 91, Orsay


Abstract
A method of computing millimeter transverse electric waves diffraction by a spherical plasma is presented. Electronic densities are not limited. This method is applied to the interpretation of interferometric measurements of known profile plasmas. It is shown that the method of measuring low electronic densities (N << Nc, Nc cut-off density) may be extended to high densities. Electronic densities are experimentally measured on an afterglow cesium plasma (N ≤ 3 × 1013 cm-3) ; good agreement with independant optical methods is obtained.


Résumé
On présente une méthode de calcul de la diffraction d'ondes transverses électriques par un plasma sphérique, dont la densité électronique et son gradient ne sont pas limités. Le calcul est appliqué à l'interprétation de mesures interférométriques sur un plasma de profil connu. Le calcul numérique montre que l'interprétation valable pour N << Nc, Nc densité de coupure, peut être étendue à des densités N ~ Nc avec une erreur limitée (± 5 % pour N/Nc < 0,7). Les densités électroniques ainsi déterminées à 70 GHz sur une colonne de plasma de césium en cours de recombinaison (N ≤ 3 × 1013 cm-3) sont en bon accord avec celles obtenues par des méthodes optiques indépendantes.

PACS
7720 - Dielectric permittivity.
2810 - Dielectric materials and properties.
7310K - Dielectric variables measurement.

Key words
permittivity -- permittivity measurement -- reflectometry at 35 GHz -- uniaxial -- biaxial -- principal -- complex -- permittivities -- anisotropic -- absorbing