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Citations de cet article :

Photoluminescence and x‐ray photoelectron spectroscopy measurements of InP surface treated by acid and base solutions

S. K. Krawczyk and G. Hollinger
Applied Physics Letters 45 (8) 870 (1984)
DOI: 10.1063/1.95437
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Evidence for interfacial defects in metal‐insulator‐InP structures induced by the insulator deposition

B. Sautreuil, P. Viktorovitch and R. Blanchet
Journal of Applied Physics 57 (6) 2322 (1985)
DOI: 10.1063/1.334335
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Comprehensive study of the valence band of standard alkali-metal and indium phosphorus oxide salts through x-ray photoemission spectroscopy and extended Hückel theory tight-binding analysis: A contribution towards the elucidation of local order in oxides on InP surfaces

A. Le Beuze, R. Lissillour, A. Quemerais, et al.
Physical Review B 39 (15) 11055 (1989)
DOI: 10.1103/PhysRevB.39.11055
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Thin Films from Free Atoms and Particles

G. Gautherin, D. Bouchier and C. Schwebel
Thin Films from Free Atoms and Particles 203 (1985)
DOI: 10.1016/B978-0-12-410755-7.50011-7
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Influence of Ru3+ ions at Al2O3/GaAs interface on MIS structures

H. Mazari, Z. Benamara, O. Bonnaud and R. Olier
Materials Science and Engineering: C 21 (1-2) 307 (2002)
DOI: 10.1016/S0928-4931(02)00090-5
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Couches minces d'oxynitrure de phosphore. Application aux structures MIS sur InP

Dang Tran Quan, A. Le Bloa, H. Hbib, et al.
Revue de Physique Appliquée 24 (5) 545 (1989)
DOI: 10.1051/rphysap:01989002405054500
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