Rev. Phys. Appl. (Paris) 9, 947-951 (1974)
DOI: 10.1051/rphysap:0197400905094700

Utilisation d'un seul dioptre et d'un analyseur ellipsomètre interférentiel pour l'amélioration des mesures d'indices par réflecto-ellipsométrie en incidence brewstérienne ou principale

R. Sardos

Laboratoire de Physique Expérimentale, Equipe d'optique des micro-ondes, Université de Bordeaux I, 351, Cours de la Libération, 33405 Talence, France

Abstract
The author shows that throughout the whole electromagnetic spectrum it is easy to suppress parasitic reflections by means of a judiciously shaped sample. He then shows it is also possible to improve the measurements in the microwave region with an unusual type of ellipsometer.

Résumé
1) L'auteur montre que, dans tout le spectre électromagnétique, il est aisé de s'affranchir des réflexions parasites en utilisant une lame de forme convenable. 2) Il montre ensuite que l'on peut également améliorer les mesures en micro-ondes à l'aide d'un analyseur ellipsomètre différent de ceux classiquement utilisés.

PACS
0760F - Optical polarimetry and ellipsometry.
7820D - Optical constants and parameters condensed matter.

Key words
ellipsometry -- reflectoellipsometry -- Brewster incidence -- principal incidence -- refractive index measurement -- interface -- parasitic reflections -- microwave region