Dispositif utilisant la transmission hyperfréquence pour mesurer la durée de vie des porteurs injectés dans un échantillon semi-conducteur à basse température. Application à la diode pin p. 1 M. Brousseau, J. Barrau and J.C. Brabant DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01971006010100 AbstractPDF (625.4 KB)References
Contrôle du dopage dans la croissance épitaxiale d'arséniure de gallium p. 5 A. Boucher, J.P. Chané and E. Fabre DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01971006010500 AbstractPDF (798.2 KB)References
Dislocations et fautes d'empilement par microscopie ionique à champ p. 11 J. Gallot and D.A. Smith DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060101100 AbstractPDF (1.534 MB)References
Une méthode impulsionnelle de mesure de la durée de vie des porteurs injectés dans la zone centrale d'une structure pin p. 19 J. Barrau, L. Bailon, J.-C. Brabant and M. Brousseau DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060101900 AbstractPDF (573.4 KB)References
Étude des fluctuations de fréquence de lasers monomodes p. 23 E. Boileau, J.-M. Battifol, H. Clergeot and B. Picjnbono DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060102300 AbstractPDF (1.229 MB)References
Analyse des expériences de génération de second harmonique p. 31 D. Chemla and P. Kupecek DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060103100 AbstractPDF (2.599 MB)References
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Spectromètre pour la polarisation dynamique des protons dans un champ de 50 kilogauss p. 59 M. Odehnal, P. Néel, V. Bouffard and Cl. Pasquette DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060105900 AbstractPDF (775.1 KB)References
Étude des aberrations du second ordre du microanalyseur ionique et de quelques autres systèmes destinés au filtrage d'images étendues p. 65 M. Leleyter and G. Slodzian DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060106500 AbstractPDF (3.290 MB)References
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