Rev. Phys. Appl. (Paris) 18, 519-522 (1983)
DOI: 10.1051/rphysap:01983001808051900

Préparation d'échantillons de carbone pour sources d'ions à pulvérisations

I. Brissaud¹, J.P. Mouffron¹, J.M. Garnier² et J.L. Michelot<sup>2

1</sup>  Institut de Physique Nucléaire, B.P. 1, 91406 Orsay Cedex, France
²  Laboratoire d'Hydrologie et Géochimie Isotopique, Bât. 504, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France

Abstract
Numerous carbon samples were prepared by RF cracking of acetylene. These samples give a 12C- current as intense as pure graphite when used in a sputtering ion source of tandem accelerator. Isotopic fractionation 13C/12C is measured.

Résumé
Des échantillons de carbone ont été préparés par craquage d'acétylène dans une décharge radiofréquence. Dans une source d'ions négatifs d'un accélérateur tandem, les dépôts permettent d'obtenir un faisceau de 12C- aussi intense qu'avec du graphite pur. Le fractionnement isotopique 13C/12C introduit par le craquage a été mesuré. Les résultats montrent que ces échantillons de carbone peuvent être utilisés pour des expériences de datation par le 14C sur les accélérateurs tandem.

PACS
2925C - Ion sources: positive, negative and polarized.
8120 - Other methods of preparation of materials.

Key words
carbon -- ion sources -- materials preparation -- negative ions -- isotopic fractionation -- C sample preparation -- negative ion source -- RF cracking -- acetylene -- sup 12 C sup current -- sputtering ion source -- tandem accelerator