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Revue de Physique Appliquée

Volume 15 / No 11 (novembre 1980)


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Identification of imperfections contribution to electronic conductivity in monocrystalline metal film p. 1573

C.R. Tellier, L. Hafid and A.J. Tosser
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198000150110157300
  • Abstract
  • PDF (770.7 KB)
  • References

Frottement interne des verres de borates et de borosilicates alcalins p. 1579

J. Phalippou, R. Jabra and J. Zarzycki
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198000150110157900
  • Abstract
  • PDF (933.5 KB)
  • References

Classical noise and nonlinear effects in the ideal avalanche diode p. 1585

A.A. Walma
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198000150110158500
  • Abstract
  • PDF (2.125 MB)
  • References

Effets d'un rayonnement ionisant sur les mécanismes de conduction et de bruit de fond basse fréquence des transistors bipolaires p. 1599

G. Blasquez and M. Roux-Nogatchewsky
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198000150110159900
  • Abstract
  • PDF (1.017 MB)
  • References

Dispositif de mesures du pouvoir thermoélectrique sur des échantillons très résistants entre 4 et 300 K p. 1607

P. Dordor, E. Marquestaut and G. Villeneuve
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198000150110160700
  • Abstract
  • PDF (960.2 KB)
  • References

Revue de livres p. 1615

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198000150110161500
  • Abstract
  • PDF (60.16 KB)

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