A systematic error of Michelson's type lambdameters p. 463 J. Vigué and B. Girard DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01986002108046300 PDF (367.0 KB)References
Silicon wafers for integrated circuit process p. 467 B. Leroy DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01986002108046700 PDF (3.801 MB)References
Méthode DDLTS utilisant une détection synchrone : application au GaAs implanté en oxygène p. 489 A. Le Bloa, Dang Tran Quan and P.N. Favennec DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01986002108048900 PDF (1.607 MB)References
Computer controlled data acquisition and signal processing for continuous combustion gas sampling p. 501 N. Darabiha, S.M. Candel, E. Esposito and D. Veynante DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01986002108050100 PDF (1.437 MB)References
Evaluation de la longueur de diffusion par la méthode EBIC dans les piles solaires à l'AsGa et application à l'environnement spatial p. 509 J. Bozec and G. Rolland DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01986002108050900 PDF (766.4 KB)References
Diffusion Raman basse fréquence dans les fibres optiques p. 515 A. Saissy DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01986002108051500 PDF (1.002 MB)References
