Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 6, Numéro 1, mars 1971
Page(s) 51 - 54
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060105100
Rev. Phys. Appl. (Paris) 6, 51-54 (1971)
DOI: 10.1051/rphysap:019710060105100

Influence de la longueur des fentes sur la résolution des spectromètres électrostatiques cylindrique et plan

D. Roy, M. De Celles et J.-D. Carette

Centre de recherches sur les atomes et les molécules et Laboratoire de Physique atomique et moléculaire Département de Physique Faculté des Sciences, université Laval, Québec, Canada


Abstract
In order to take into account the tridimensional aspect in calculation concerning the energy distribution of electrons transmitted by cylindrical and parallel plate electrostatic spectrometers, we suggest and present a method which is founded on statistics. This method allows one to evaluate not only the distribution broadening but also to draw its profile, from the distribution obtained in the bidimensional case. These distributions calculated for various lenghts of the spectrometer slits allow to know the influence of this parameter on the resolving power of these apparatuses.


Résumé
Pour tenir compte de l'aspect tridimensionnel dans le calcul du profil des distributions en énergie des électrons transmis par les spectromètres électrostatiques cylindrique et plan, on propose une méthode qui repose sur des considérations statistiques. Elle permet d'évaluer non seulement l'élargissement de la distribution mais aussi de tracer son profil à partir de la distribution obtenue dans le cas bidimensionnel. L'étude du profil des distributions d'énergie obtenues alors qu'on tient compte de la longueur finie des fentes de ces appareils permet de mieux connaître l'influence de ce facteur sur leur pouvoir de résolution.

PACS
2930 - Radiation spectrometers and spectroscopic techniques.
7440 - Particle spectrometers.

Key words
particle spectrometers -- tridimensional aspect -- energy distribution -- electrons -- cylindrical -- parallel plate -- electrostatic spectrometers -- broadening -- profile -- lengths -- slits