Pressure variation of the critical temperature in nitroethane-isooctane and nitroethane-3-methylpentane mixtures p. 907 D. Beysens et R. Tufeu DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019790014011090700 RésuméPDF (431.7 KB)Références
Influence de la contre-réaction thermique sur l'impédance de sortie des transistors MOS à canaux courts p. 911 P. Rossel, M. Gamboa, H. Tranduc et H. Martinot DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019790014011091100 RésuméPDF (1.068 MB)Références
A criterion for determining the switching voltage of a metal-thin insulator-Si(n)-Si(p+) device p. 921 J. Millán, F. Serra-Mestres et J. Buxó DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019790014011092100 RésuméPDF (515.5 KB)Références
Mesure automatique de la diffusivité thermique p. 927 A. Degiovanni, M. Laurent et R. Prost DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019790014011092700 RésuméPDF (903.7 KB)Références
Appareillage pour l'étude des propriétés rhéologiques des matériaux en régime biaxial à vitesses linéaires, contraintes ( σzz, σ zθ) ou déformation ( ε zz, εzθ), constantes p. 933 P. Delobelle, C. Oytana et A. Mermet DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019790014011093300 RésuméPDF (797.0 KB)Références
La transformation de Fourier discrète en spectroscopie temporelle p. 939 Y. Dutuit DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019790014011093900 RésuméPDF (725.8 KB)Références
Addendum - Nouvelles techniques de réalisation de photopiles au silicium p. 946 P. Siffert DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019790014011094600 RésuméPDF (29.91 KB)
