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Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 15, Numéro 2, février 1980
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| Page(s) | 353 - 355 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:01980001502035300 | |
Rev. Phys. Appl. (Paris) 15, 353-355 (1980)
DOI: 10.1051/rphysap:01980001502035300
Centre de Recherche sur les Mécanismes de la Croissance Cristalline, C.N.R.S., Centre Scientifique de St-Jérôme, 13397 Marseille, France
0720D - Thermometry.
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.
Key words
field emission ion microscopes -- DC current -- field emission tip -- stability -- precision -- field emission ion microscope -- temperature measurement
DOI: 10.1051/rphysap:01980001502035300
Chauffage à faible temps de montée d'une pointe d'émission de champ
M. Audiffren et J. BardonCentre de Recherche sur les Mécanismes de la Croissance Cristalline, C.N.R.S., Centre Scientifique de St-Jérôme, 13397 Marseille, France
Abstract
We describe a device used for heating and measuring with DC current the temperature of a field emission tip being at several kV. The obtained rise time is 0.2 s, the stability and the precision of the measure are better than 0.1 K.
Résumé
Nous décrivons un dispositif destiné au chauffage et à la mesure en courant continu de la température d'une pointe d'émission de champ portée à une tension de quelques kV. Le temps de montée obtenu est de 0,2 s, la stabilité et la précision de la mesure sont meilleures que 0,1 K.
0720D - Thermometry.
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.
Key words
field emission ion microscopes -- DC current -- field emission tip -- stability -- precision -- field emission ion microscope -- temperature measurement