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Revue de Physique Appliquée

Volume 20 / Numéro 9 (septembre 1985)


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Réflectométrie appliquée aux interfaces diffuses : possibilités et limites de la technique p. 631

P. Schaaf, Ph. Dejardin et A. Schmitt
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01985002009063100
  • Résumé
  • PDF (1.316 MB)
  • Références

Spectroscopie ultrasonore de cibles de formes simples immergées dans l'eau p. 641

C. Gazanhes, J.P. Sessarego et T. Amoranto
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01985002009064100
  • Résumé
  • PDF (1.009 MB)
  • Références

Etude des variations de rendement quantique interne d'un détecteur CCD en fonction de la temperature p. 651

G. Rolland
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01985002009065100
  • Résumé
  • PDF (1.221 MB)
  • Références

Etude d'une machine à réluctance variable en régime sinusoïdal. Application à un prototype à disques imbriqués de 200 kW p. 661

R. Goyet, R. Guillet, A. Leveque, J. Lucidarme et C. Rioux
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01985002009066100
  • Résumé
  • PDF (1.347 MB)
  • Références

Observations on the power of a N2 laser p. 671

B. Giannetas, P. Persephonis et R. Rigopoulos
DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01985002009067100
  • Résumé
  • PDF (1.044 MB)
  • Références

Revue de Livres p. 679

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01985002009067900
  • Résumé
  • PDF (203.2 KB)

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