| Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 4, Numéro 1, mars 1969
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| Page(s) | 42 - 44 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:019690040104200 | |
Rev. Phys. Appl. (Paris) 4, 42-44 (1969)
DOI: 10.1051/rphysap:019690040104200
Centre de Recherches sur les Très Basses Températures, C.N.R.S., Grenoble, France
2890 - Other dielectric applications and devices.
5210 - Electromagnetic wave propagation.
7310K - Dielectric variables measurement.
7310N - Microwave measurement techniques.
Key words
electromagnetic wave reflection -- microwave measurement -- permittivity measurement
DOI: 10.1051/rphysap:019690040104200
Méthode d'intégration électronique pour la mesure d'aimantation de supraconducteurs de faible volume et de faible champ critique
A. Nemoz, J.C. Solecki, J.P. Faure et J.R.G. KeystonCentre de Recherches sur les Très Basses Températures, C.N.R.S., Grenoble, France
Abstract
An electronic integration device with preamplification for magnetization measurements is described. Magnetization curves, even with flux jumps, can be traced for superconducting materials of small volume, at low critical fields, on a fast XY recorder.
Résumé
On décrit la réalisation d'un montage de mesure d'aimantation par intégration avec amplification préalable, qui permet d'obtenir, pour des supraconducteurs de faible volume et de faible champ critique, le tracé direct de la courbe d'aimantation, et en particulier les sauts d'aimantation, sur un enregistreur XY rapide.
2890 - Other dielectric applications and devices.
5210 - Electromagnetic wave propagation.
7310K - Dielectric variables measurement.
7310N - Microwave measurement techniques.
Key words
electromagnetic wave reflection -- microwave measurement -- permittivity measurement